吸附分析儀器

  XEMIS是一款高精度的吸附微量天平，用于環(huán)境下的精密測(cè)量。它可作為微量天平單獨(dú)使用，也可作為完整的吸附分析儀器。XEMIS有著出色的靈活性以及的稱量精度和穩(wěn)定性。 XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema*的外部感知技術(shù)，可在高溫、高壓條件下進(jìn)行重量吸附分析，也可與其他商業(yè)化的吸附微量天平儀器聯(lián)用。

產(chǎn)品特點(diǎn)

1. 外部感知技術(shù)，把敏感元件置于天平室外部，允許腐蝕性和易燃?xì)怏w的操作

2. 幾何對(duì)稱、精密設(shè)計(jì)的微量天平

3. 內(nèi)部容積小化

4. 大容量微量天平（5克），分辨率0.2μg和長(zhǎng)期穩(wěn)定性±5μg

5. 寬動(dòng)態(tài)稱量范圍（0-200毫克）

6. 操作壓力高達(dá)200bar

7. 單獨(dú)的反應(yīng)器可進(jìn)行從77 K到773 K的全溫度范圍測(cè)量

8. 無(wú)需重新歸零或原位校準(zhǔn)

9. 采用IGA*的終點(diǎn)預(yù)測(cè)方法

10. 全金屬結(jié)構(gòu)由高品質(zhì)的VCR裝配

11. 模塊化設(shè)計(jì)，與所有配件兼容且可升級(jí)